立式光學(xué)計原理

　　立式光學(xué)計，又稱光學(xué)比較儀，是一種高精度光學(xué)機械式儀器，其原理主要基于光學(xué)杠桿的放大作用，將微小的位移量轉(zhuǎn)換為光學(xué)影像的移動進行測量。以下是立式光學(xué)計原理的詳細闡述：

　　一、基本原理

　　光學(xué)杠桿放大原理：

　　立式光學(xué)計利用光學(xué)杠桿原理，通過精密的光學(xué)系統(tǒng)和機械結(jié)構(gòu)，將微小的位移量放大成易于觀察和測量的影像移動。這種放大作用使得立式光學(xué)計能夠?qū)崿F(xiàn)對微小尺寸的高精度測量。

　　自準(zhǔn)直原理：

　　在某些類型的立式光學(xué)計中，如投影立式光學(xué)計，還采用了自準(zhǔn)直原理。該原理通過平面反射鏡和物鏡的組合，使得光線在系統(tǒng)中形成自準(zhǔn)直光束，即光線在經(jīng)過反射后能夠重新聚焦于原物點或其像點，從而實現(xiàn)高精度的測量。

　　二、工作原理

　　立式光學(xué)計的工作原理主要包括以下幾個步驟：

　　光源與聚光：

　　由光源發(fā)出的光線經(jīng)過聚光鏡等光學(xué)元件進行聚光和準(zhǔn)直，形成一束平行光。

　　光線投射與反射：

　　平行光投射到被測物體上，經(jīng)過反射后形成反射光線。這些反射光線再次進入光學(xué)系統(tǒng)，經(jīng)過透鏡、反射鏡等元件的作用，形成干涉條紋或影像。

　　干涉與測量：

　　對于基于干涉原理的立式光學(xué)計（如湯姆森干涉原理、納布拉干涉原理等），反射光線進入干涉儀系統(tǒng)，通過干涉條紋的形成和變化來測量被測物體的尺寸。

　　而對于基于自準(zhǔn)直原理和光學(xué)杠桿原理的立式光學(xué)計（如投影立式光學(xué)計），反射光線經(jīng)過光學(xué)系統(tǒng)后形成放大的影像，通過觀察和測量影像的移動來確定被測物體的尺寸。

　　讀數(shù)與記錄：

　　通過目鏡或投影屏等觀察裝置，讀取并記錄測量結(jié)果。現(xiàn)代立式光學(xué)計還可能配備有數(shù)字顯示屏等電子讀數(shù)裝置，以提高讀數(shù)的準(zhǔn)確性和便捷性。

　　三、主要類型與特點

　　立式光學(xué)計主要分為數(shù)字式立式光學(xué)計和投影式立式光學(xué)計兩類。它們各自具有不同的特點和應(yīng)用場景：

　　數(shù)字式立式光學(xué)計：采用數(shù)字顯示技術(shù)，能夠直接顯示測量結(jié)果，具有讀數(shù)準(zhǔn)確、操作簡便等優(yōu)點。它適用于對測量精度要求較高且需要快速讀數(shù)的場合。

　　投影式立式光學(xué)計：通過投影屏等裝置將影像放大并投影出來進行觀察測量，具有影像清晰、放大倍數(shù)大等優(yōu)點。它適用于對測量精度和放大倍數(shù)要求較高且需要直觀觀察的場合。

　　綜上所述，立式光學(xué)計通過光學(xué)杠桿的放大作用和精密的光學(xué)系統(tǒng)實現(xiàn)對微小尺寸的高精度測量。其原理涉及光學(xué)杠桿放大原理、自準(zhǔn)直原理以及干涉原理等多個方面，并根據(jù)不同的測量需求和應(yīng)用場景發(fā)展出了多種類型的立式光學(xué)計。